Détails sur le produit:
Conditions de paiement et expédition:
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Chaîne de mesure: | 100um (jusqu'à 400um) | Durée de vie moyenne: | 1000hours (100W) 500hours (150W) |
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Résolution: | 0.1Nm | Puissance: | C.A. 100-240V 50/60Hz |
Vitesse de numérisation: | Le 12um/s le plus rapide | Nom de marque: | Rational |
Surligner: | optical interferometry,optical surface profiler |
Interféromètre de lumière blanche d'AE-100M et profileurs extérieurs optiques
Dossier de produit :
Combiné avec le microscope et l'interféromètre, l'interféromètre de lumière blanche, avec la mesure 3D de la taille de balayage vertical de 400um, convient à la mesure d'ensemble et de profil de divers matériaux et de composants micro. Cet instrument n'a pas besoin de programme modifié par la lumière complexe. Il est très utilisé dans la lentille en verre, la surface du film de revêtement, la gaufrette, le disque, le MEMS (électro système mécanique micro), l'affichage à cristaux liquides plat, l'emballage de carte PCB de haute densité, d'IC, l'analyse matérielle, la recherche extérieure micro, etc.
Caractéristiques :
1. mesure 3D pour l'objet de nanoscale.
2. à grande vitesse et de non contact.
3. analyse de la surface, du profil et de la rugosité.
4. matériaux transparents ou non transparents disponibles.
5. poutre de Non-électron et mesure de la sécurité non-laser.
6. entretien de petit prix.
Graphique 3D professionnel traitant et analysant le logiciel (courrier Topo) :
1. interface homme-ordinateur conviviale.
2. Auto-calibrage pour le film standard avancé.
3. l'analyse linéaire ou l'analyse régionale est disponible en analysant la profondeur et la taille.
4. l'analyse linéaire est disponible dans la rugosité ou le caractère onduleux défini par OIN.
5. 17 caractéristiques de mesure et 4 données de mesure supplémentaires disponibles.
6. l'analyse régionale est disponible dans l'analyse graphique ou l'analyse de statistique.
7. la 2D transformée de Fourier rapide (FFT) traitant la caractéristique aiment le lissage, l'affilage, et la vague numérique de filtration.
8. le résultat d'analyse a produit dans les dossiers graphiques multiples comme le BMP, ou dans le format d'Excel par l'interféromètre analysant le logiciel, ImgScan.
Logiciel d'analyse d'interférence de précision à grande vitesse et haute (ImgScan) :
1. Le matériel de système est configuré avec le logiciel de prétraitement d'ImgScan analyser automatiquement la frange de blanc-lumière.
2. la taille de verticale est jusqu'à 0.1nm.
3. logiciel de calcul et de analyse à grande vitesse.
4. L'installation de la gamme de balayage vertical est facile et simple.
5. la lentille est disponible dans 10X, 20X ou 50X.
6. affichage numérique de l'axe de X, de Y et de Z, qui rend l'objet mesuré plus rapide et plus commode pour détecter.
7. l'éclat automatique manuel est disponible pour acquérir la meilleure comparaison de la frange de blanc-lumière.
8. disponible dans le mode de mesure de balayage de la haute précision PVSI ou le mode à grande vitesse de mesure de balayage de VSI.
9. Patented analysant le logiciel convient à mesurer le profil 3D de l'objet semi-transparent.
10. point d'Automatique-réparation.
11. la direction du balayage peut être placée par l'utilisateur.
Caractéristiques :
Modèle | AE-100M | ||
Tableau mobile (millimètre) | Taille : 100*100, voyage : 13*13 | ||
Rapport optique de lentille | 10X | 20X | 50X |
Observant la gamme de /Measuring (millimètre) | 0.43*0.32 | 0.21*0.16 | 0.088*0.066 |
Résolution (μm) | 0,92 | 0,69 | 0,5 |
Degrés | 17 | 23 | 33 |
Distance de fonctionnement | 7,4 | 4,7 | 3,4 |
La résolution du capteur | pixel : 640*480 | ||
Charge de poids (kilogramme) | 20kg/moins que 1kg | ||
Voyage d'axe des z | 45mm (régler avec précision manuellement) | ||
Affichage numérique d'axe des z | Résolution : 1μm | ||
Plate-forme de ajustement inclinée | Ajustement de manuel de Biax/ | ||
Mesure de taille | |||
Chaîne de mesure | 100 (μm) (400μm. Configuration facultative) | ||
Résolution | 0.1nm | ||
Exactitude répétée | ≤ 0,1% (height>10μm de mesure) | ||
≤10nm (height1μm de mesure 10μm) | |||
≤ 5nm (taille de mesure <1> | |||
Système de contrôle de mesure | Automatique | ||
Vitesse de balayage (μm/s) | 12 (le plus rapide) | ||
Illumination | |||
Type | Lampe d'halogène | ||
Durée de vie moyenne | 1000h 100W 500h (150W) | ||
Éclat | Automatiquement/s'ajustent manuellement | ||
L'informatique et ordinateur | |||
Affichage de traitement et de calcul de central | Double TASSE de core+ | ||
Vidéo et affichage informatique | 17" écran d'affichage à cristaux liquides | ||
OS | Windows XP (2) | ||
Alimentation d'énergie et conditions ambiantes | AC100 --240 V 50-60Hz | ||
Vibration environnementale | VVC-C plus le niveau | ||
Mesurant et analysant des logiciels | |||
Logiciel de mesure ImgScan | Logiciel de mesure ImgScan : disponible dans le mode de mesure de VSI/PVSI/PSI (le mode de mesure de livre par pouce carré doit être configuré avec le module de livre par pouce carré) | ||
Analyse du logiciel PosTopo | La rugosité d'OIN/analyse de taille, le multiple 2D et le 3D transformée de Fourier. Observez le graphique de visionnement comme le contour ; contour, secteur, et analyse de volume ; bourdonnement de graphique ; conversion de format de fichier vidéo. Rapportez la sortie ; programmez la mesure de colloque. |
Personne à contacter: Sunny
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